Ученые центра «Перспективные технологии в микроэлектронике» Томского государственного университета (ТГУ) создали программу, которая позволяет прогнозировать срок службы сенсоров на основе планируемой лучевой нагрузки.
Эта работа была выполнена в рамках исследований, направленных на оценку воздействия ионизирующего излучения на сенсоры из арсенида галлия, легированного хромом. Разработанная методика и программа дают возможность проводить расчеты радиационной стойкости детекторов, содержащих сенсоры, к воздействию бета-частиц с широким диапазоном энергий.
На практике эта методика может быть использована для оценки времени наработки на отказ многоэлементных детекторов, которые входят в состав исследовательского оборудования, например, в просвечивающих электронных микроскопах.
По словам научного сотрудника центра Антона Тяжева, новая методика расчета позволяет прогнозировать срок службы ряда дорогостоящих детекторов, используемых в научных экспериментах в области физики высоких энергий и физики элементарных частиц.
«Мы получили положительные результаты при сравнении экспериментальных данных и расчетов, что позволяет прогнозировать срок службы сенсоров без проведения дорогостоящих и длительных экспериментов», – сообщает Тяжев.
Отмечается, что потоки бета-частиц используются в некоторых международных проектах, реализуемых на базе исследовательских установок класса мегасайенс. В частности, это проекты FCAL и LUXE, которые осуществляются на базе немецкого национального исследовательского центра DESY (Deutsches Elektronen-Synchrotron, Гамбург).
В настоящее время специалисты центра «Перспективные технологии в микроэлектронике» ТГУ разрабатывают и производят сенсоры для российского источника синхротронного излучения (СКИФ), который строится в новосибирском Кольцово. Первый детектор для отечественной установки уровня мегасайенс был создан осенью 2024 года совместно с Институтом ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН (Новосибирск).
Источник: «Интерфакс»
распечатать статью