XIV Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в радиоэлектронике», прошедшая с 17 по 19 июня 2025 года в Нижнем Новгороде, стала масштабной площадкой для обсуждения тенденций, достижений и проблем метрологического обеспечения радиоэлектроники в России. Организатором конференции выступил научно-технический центр «Навитест», научную поддержку конференции традиционно оказал Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (ФГУП «ВНИИФТРИ»). Конференция состоялась также благодаря поддержке Минпромторга, Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) и научного совета Российской академии наук, а также промышленных предприятий и ведущих производителей радиоизмерительной техники.
В конференции приняли участие 169 специалистов из 58 организаций, что говорит о глубокой интеграции метрологии в современную науку, промышленность и государственное управление. Оживленные обсуждения развернулись вокруг 24 пленарных и 54 секционных докладов, в том числе двух стендовых, вызвавших значительный интерес аудитории и ставших предметом профессиональных дискуссий.
В центре внимания специалистов оказались основные направления совершенствования законодательства и нормативной базы в сфере обеспечения единства и точности измерений, особенно с учетом воздействия внешних ограничений. Было отмечено, что развитие метрологической поддержки радиоэлектроники — ключевой фактор инновационного роста отрасли, и требует опережающего развития эталонной базы и измерительных возможностей.
В рамках четырех тематических секций конференции специалисты подробно обсудили актуальные вопросы метрологического обеспечения радиотехнических измерений, методологию и практику измерений параметров электромагнитных полей, совершенствование антенных систем и трактов передачи сигналов, а также методы измерений мощности, формы, спектра и модуляции радиосигналов. Особое место в программе заняли направления, связанные с развитием цифровых и квантовых технологий применительно к отечественным приборам и эталонам.
Представленные доклады подчеркнули необходимость расширения частотного диапазона первичных эталонов до области миллиметровых и субмиллиметровых волн, что обусловлено ростом требований к миниатюризации радиоэлектронных систем, увеличением пропускной способности и скорости передачи данных, а также необходимостью точного контроля электромагнитной совместимости современных устройств. Были заслушаны и получили особое внимание доклады, посвященные созданию высокоточных измерителей напряженности электрического поля с использованием квантовых эффектов, а также развитию средств и методов радиотехнических измерений в диапазоне до 1,1 ТГц. По ряду работ были представлены результаты исследований, направленных на обеспечение единства и точности измерений комплексных коэффициентов отражения и передачи микроэлектронных устройств, реализованных на подложке.
Среди докладов, вызвавших особый интерес, отмечены материалы по измерениям параметров сигналов с цифровыми видами модуляции. Здесь обсуждались методы и оборудование, позволяющие получать достоверные результаты при работе с современными форматами цифровых радиосигналов и фазовыми шумами, что является особенно актуальным в эпоху перехода к цифровым стандартам связи. Высокую оценку профессионального сообщества получили презентации новых отечественных средств измерений параметров широкополосных радиосигналов и ошибок векторной модуляции в диапазоне несущих частот до 67 ГГц, что открывает новые возможности для последующего внедрения этих решений в промышленную и научную практику.
Широко обсуждались доклады, посвященные развитию методик антенных измерений, включая вопросы создания государственных эталонов коэффициента усиления антенн и пространственных характеристик излучения. Отмечена необходимость в расширении нормативно-методической базы в области антенных измерений.
Важная тема пленарного и секционных заседаний — зондовые измерения комплексных коэффициентов отражения и передачи микроэлектронных структур на пластине. В докладах акцентировалось, что отсутствие единства таких измерений в стране создает риски для качества отечественной микроэлектроники, а также для реализации программ технологического суверенитета. Участники конференции констатировали: требуется срочная стандартизация и создание новых эталонов в этой области.
ВНИИФТРИ уже завершил разработку отечественного измерительного зонда и калибровочной пластины для высокоточных измерений параметров микроэлектронных устройств на подложке. Серийное производство нового прибора планируется начать в 2026 году.
Выступления специалистов в области СВЧ измерений и квантовых сенсоров показали значительный прогресс отечественной науки в вопросах разработки новых методов и приборов, позволяющих повысить точность и частотный диапазон при воспроизведении единиц физических величин на основе современных физических принципов (электрооптические преобразователи, квантовые явления).
Особо подчеркивается важность координации межлабораторных сличений, актуализации национальных и межгосударственных стандартов с учетом реальных потребностей микроэлектроники, медицины, аэрокосмической техники и других критически важных отраслей.
В качестве итогов работы выдвинуты рекомендации поддержать отечественные разработки современных импортонезависимых радиоизмерительных приборов, усилить работу по стандартизации зондовых измерений, продолжить развитие эталонной базы, стимулировать появление новых образовательных программ и специализированных курсов по направлению метрологии в радиоэлектронике и СВЧ технике.
Конференция «Метрология в радиоэлектронике» стала значимым событием, объединившим ведущих специалистов и организации отрасли для обсуждения актуальных вызовов и определения стратегических направлений развития метрологического обеспечения радиоэлектроники в России. Высокий уровень научных дискуссий, разнообразие представленных докладов и практико-ориентированный подход ко всем затронутым темам позволяют рассчитывать на дальнейший рост и укрепление отрасли. Участниками подчеркнута необходимость усиления межведомственного взаимодействия, внедрения инновационных решений, своевременной стандартизации и повышения качества подготовки кадров. Достижения и рекомендации, прозвучавшие в ходе конференции, будут способствовать развитию отечественных технологий, укреплению национальной научно-технической базы и поддержке технологического суверенитета России в области радиоэлектроники.
распечатать статью
