Тег: Метрология

Благодаря разработке промышленные предприятия получили возможность точно обнаруживать и измерять дефекты в изделиях

Мультисенсор позволяет проводить ускоренную диагностику окружающего воздуха и состояния газовой среды

Технология позволит измерять эффективность материалов для фотонных технологий для определения защищенности кристалла от рассеивания света

Технология упростит производство микроэлектроники для датчиков и сенсоров

Представитель ВНИИМ им. Д.И. Менделеева был назначен председателем Объединенного комитета по эталонам КООМЕТ